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無(wú)損檢測(cè)也叫無(wú)損探傷,是在不損害或不影響被檢測(cè)對(duì)象使用性能的前提下,采用射線,超聲,紅外,電磁等原理技術(shù)并結(jié)合儀器對(duì)材料,零件,設(shè)備進(jìn)行缺陷,化學(xué),物理參數(shù)檢測(cè)的技術(shù)。
射線檢測(cè)(RT),超聲波檢測(cè)(UT),磁粉檢測(cè)(MT),滲透檢測(cè)(PT),渦流檢測(cè)(ET)和聲發(fā)射檢測(cè)(AT)等。在目前核工業(yè)上還有目視檢測(cè)、檢漏檢測(cè)等。
射線檢測(cè):
利用射線穿透物質(zhì)時(shí)的衰減特性來(lái)探測(cè)被檢物中的不連續(xù)性(缺陷)并記錄與實(shí)現(xiàn)其圖像的方法。射線檢測(cè)按照射線(或輻射)源不同可分為X射線檢測(cè),γ射線檢測(cè),中子射線檢測(cè),質(zhì)子射線檢測(cè)和電子輻射檢測(cè)等方法。
超聲波檢測(cè):
利用人感覺(jué)不到的高頻聲波(>20000Hz)在被檢物中的傳播、反射、衰減等特性判斷測(cè)定被檢物缺陷的方法。
磁粉檢測(cè):
被檢物在磁場(chǎng)中被磁化后,缺陷部位產(chǎn)生漏磁磁場(chǎng),在被檢物表面撒上磁粉,缺陷處有磁粉附著從而顯示出缺陷。磁粉檢測(cè)只適用于鐵磁性材料。鐵磁性材料上非磁性涂層厚度小于50um時(shí),對(duì)磁粉檢測(cè)靈敏度影響很小。缺陷長(zhǎng)度方向與磁場(chǎng)方向相垂直是磁粉檢測(cè)的重要條件。
滲透檢測(cè):
施加于被檢物的滲透劑靠毛細(xì)作用滲入被檢物表面缺陷內(nèi),清洗被檢物后,用顯像劑將殘留在缺陷中的滲透劑吸出,從而以熒光或著色圖像顯示缺陷的形狀和位置。滲透液對(duì)缺陷的滲透能力與滲透液表面張力、滲透液對(duì)固體的潤(rùn)濕作用、缺陷形狀和大小以及滲透液粘度等有關(guān)。
射線探傷機(jī),超聲波探傷儀,磁粉探傷機(jī)等。
射線檢測(cè):GB/T3323,JB/T4730.2,JB/T6440,EN1435,ASTME446,ASTME186,ISO5817;
超聲波檢測(cè):GB/T2970,GB/T6402,GB/T7233,GB/T11345,EN12680-1,ASTMA388/A388M,JB/T4730.3;
磁粉檢測(cè):GB/T15822,JB/T6061,BSEN1290,JB/T4730.4;
滲透檢測(cè):JB/T9218,JB/T6062,EN571-1,JB/T4730.5。
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