冷熱沖擊試驗(yàn)是將試驗(yàn)樣品交替暴露在低溫和高溫空氣（或適當(dāng)?shù)亩栊詺怏w）中，以承受溫度快速變化的影響。用于評(píng)價(jià)產(chǎn)品對(duì)周圍環(huán)境溫度急劇變化的適應(yīng)性，是設(shè)備設(shè)計(jì)定型的鑒定試驗(yàn)和批量生產(chǎn)階段的常規(guī)試驗(yàn)，也可用于環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)?？梢哉f，冷熱沖擊試驗(yàn)箱僅次于振動(dòng)和高低溫試驗(yàn)，以驗(yàn)證和提高設(shè)備的環(huán)境適應(yīng)性。

冷熱沖擊試驗(yàn)的目的是：

1.工程開發(fā)階段可用于發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)和工藝缺陷；

2.提供產(chǎn)品定型或設(shè)計(jì)鑒定和批產(chǎn)階段驗(yàn)收決策依據(jù)；

3.作為環(huán)境應(yīng)力篩選應(yīng)用，目的是消除產(chǎn)品的早期故障。

試驗(yàn)條件：

高溫箱：RT～180℃；

低溫箱：RT～-50℃；

試驗(yàn)溫度保持時(shí)間：1：1h或者直到試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定，以長(zhǎng)者為準(zhǔn)；

循環(huán)次數(shù)：根據(jù)不同行業(yè)、不同廠家的不同試驗(yàn)要求，按標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法進(jìn)行試驗(yàn)。

恢復(fù)：

試驗(yàn)產(chǎn)品從冷熱沖擊箱中取出后，應(yīng)在正常試驗(yàn)大氣條件下恢復(fù)，直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定。

高低溫沖擊試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分，實(shí)驗(yàn)方法試驗(yàn)A-低溫

GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分，試驗(yàn)方法試驗(yàn)B-高溫

GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分，實(shí)驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)

GB/T2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分，試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db：交變濕熱（12h+12h循環(huán)）

IEC60068-2-30-2005環(huán)境試驗(yàn)第2-30部分：Db：循環(huán)濕熱實(shí)驗(yàn)(12)h+12h循環(huán)）

IEC60068-2-14-2009環(huán)境試驗(yàn)第2-14部分：N：溫度變化

GB/T164232-2014塑料實(shí)驗(yàn)室光源暴露試驗(yàn)方法第二部分

冷熱沖擊試驗(yàn)箱的要求：

采用高溫箱和低溫箱進(jìn)行冷熱沖擊試驗(yàn)，提供試驗(yàn)樣品經(jīng)受周圍空氣溫度急劇變化的環(huán)境溫度。高溫區(qū)的要求應(yīng)符合要求GJB150.3-86《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法高溫試驗(yàn)》第三章各條規(guī)定的要求.低溫區(qū)的要求應(yīng)符合低溫區(qū)的要求GJB150.4-86《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法低溫試驗(yàn)》第三章各條規(guī)定的要求；

冷熱沖擊箱提供高溫試驗(yàn)部分和低溫試驗(yàn)部分，應(yīng)分別符合要求GJB150.3-86和GJB150.4-86第三章各條規(guī)定的要求；

試驗(yàn)箱的體積應(yīng)保證在試驗(yàn)樣品中放入候補(bǔ)，超過試驗(yàn)溫度保持時(shí)間的10%，使試驗(yàn)箱的溫度達(dá)到GJB150.1-89中3.在2條規(guī)定的試驗(yàn)條件容差范圍內(nèi)。

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