壽命試驗(yàn)(MTBF)是一種研究產(chǎn)品壽命特征的方法，可以在實(shí)驗(yàn)室模擬各種使用條件。壽命試驗(yàn)是可靠性試驗(yàn)中重要的基礎(chǔ)項目之一，是在特定的試驗(yàn)條件下檢查產(chǎn)品的故障(損壞)，隨時間變化規(guī)律。通過壽命試驗(yàn)，我們可以了解產(chǎn)品的壽命特征、故障規(guī)律、故障效率、平均壽命以及在壽命試驗(yàn)過程中可能出現(xiàn)的各種故障模式。如果結(jié)合故障分析，可以進(jìn)一步了解導(dǎo)致產(chǎn)品故障的主要故障機(jī)制，作為可靠性設(shè)計、可靠性預(yù)測、提高新產(chǎn)品質(zhì)量、確定合理篩選、定期(批量保證)試驗(yàn)條件的依據(jù)。如果為了縮短試驗(yàn)時間，可以在不改變故障機(jī)制的情況下，通過增加應(yīng)力的方法進(jìn)行試驗(yàn)，即加速壽命試驗(yàn)。通過壽命試驗(yàn)，可以評估產(chǎn)品的可靠性水平，并通過質(zhì)量反饋提高新產(chǎn)品的可靠性水平。在適當(dāng)?shù)墓ぷ鳁l件下，設(shè)備的使用壽命很低。電子元器件的使用壽命與常用溫度密切相關(guān)。壽命試驗(yàn)(MTBF)分為定時截尾試驗(yàn)和定數(shù)截尾試驗(yàn)。估計方法為:平均壽命點(diǎn)估計值、單側(cè)置信下限估計、雙側(cè)區(qū)間估計。
高溫工作壽命試驗(yàn) 高溫壽命試驗(yàn)為利用溫度及電壓加速的方法,藉短時間的實(shí)驗(yàn)來評估IC產(chǎn)品的長時間操作壽命.一般常見的壽命實(shí)驗(yàn)方法有BI(Burn-in) / EFR(Early Failure Rate) / HTOL(High Temperature Operating Life) / TDDB(Time dependent ***lectric Breakdown)，對于不同的產(chǎn)品類別也有相對應(yīng)的測試方法及條件，如HTGB(High Temperature Gate Bias) / HTRG(High Temperature Reverse Bias) / BLT(Bias Life Test) / Intermittent Operation Life等。 低溫工作壽命試驗(yàn) 低溫操作壽命試驗(yàn)為利用低溫及電壓加速的方法，評估該組件于低溫環(huán)境操作下的壽命。 溫度工作壽命檢測能力 GJB899-2009
通過壽命試驗(yàn)，我們可以了解產(chǎn)品的壽命特征、故障規(guī)律、故障效率、平均壽命以及在壽命試驗(yàn)過程中可能出現(xiàn)的各種故障模式。例如，結(jié)合故障分析，可以進(jìn)一步了解導(dǎo)致產(chǎn)品故障的主要故障機(jī)制，作為可靠性設(shè)計、可靠性預(yù)測、提高新產(chǎn)品質(zhì)量、確定合理篩選、定期(批量保證)試驗(yàn)條件的依據(jù)。如果為了縮短試驗(yàn)時間，可以在不改變故障機(jī)制的情況下，通過增加應(yīng)力進(jìn)行試驗(yàn)，這是加速壽命試驗(yàn)。
1.客戶填寫服務(wù)申請表：填寫產(chǎn)品名稱、型號、公司名稱及地址。
2.報價：根據(jù)產(chǎn)品和客戶要求的測試條件或標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行評估。
3.樣品：具體情況。
4.測試條件：提供測試條件和標(biāo)準(zhǔn)，如果不能提供，我公司可以**。
5.報告確認(rèn)：測試完成后，向客戶確認(rèn)報告草稿，無問題出正本。
6.結(jié)案：付款。
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